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薄晶體
《微束分析 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法》意見征求(2020-07-15)
閱讀《微束分析 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法》征求意見稿后可知，標準與GB/T 20724-2006相比，主要變化如下：增加了規范性引用文件；補充修訂了術語和定義；增加了符號和縮略語；儀器設備和分析…[詳情]
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